TDS（テストデーターシステム社）のインサーキット（インサーキットテスタ）を使っての基板補修実例です。
※画像がお見苦しい点はお許しください。故意ではなく下手なだけです。今後改善していきます。

三菱電機製　MELVEC VVAR基板

ユーザー工場での故障現象　・・・　制御装置エラーが発生する基板のため、不良部位の調査を実施。

調査は、複数のICT（インサーキットテスタ）を駆使し、大きく２種類の調査を実施しています。

• 基板内のアナログ部品、パターンを全ピン アナログ計測し比較調査
• デジタルICについては、内蔵のデジタルデバイスライブラリーに基づくロジック調査

これにより、不具合対象の基板２枚それぞれより、別々の不良個所をピンポイントに特定し補修を実施。

実機にて一発動作させることが出来ました。

2SA1010(ﾊﾟﾜｰﾄﾗﾝｼﾞｽﾀ）　×　１個（上写真右　黄色枠）
MPC801KG（ｱﾅﾛｸﾞｽｲｯﾁ） ×　１個（上写真左　赤色枠）

★インサーキット調査の最大の利点は、一度、プログラムやジグ（フィクスチャー）を製作することで
同種類の基板であれば繰り返し流用して調査できることにあります。
すぐに実機動作確認ができない場合の「予備基板の健全確認」や「補修後の確認」にも有効なため
当研究会では、本稿のような自主メニューの拡充にも力を注いでまいります。

下記に、部品交換前後の測定結果を紹介します。

●フライングプローブによるアナログ測定による検出（2SA1010)

●デジタルICTによる内蔵ライブラリとの照合検出